Армянские специалисты разработали так называемую «Периодическую таблицу неисправностей» для тестирования микрочипов. Механизм призван устранять неполадки, а также прогнозировать возможность появления новых. Об этом Новости Армении - NEWS.am рассказал руководитель группы по разработке встроенного тестирования компании Synoрsys, доктор физико-математических наук Самвел Шукурян.
По его словам, индустрия хайтека стремительно развивается, работа и отдых становятся немыслимы без «умных» устройств. Наряду с этим растут и выдвигаемые к информационным технологиям требования. Увеличиваются функции гаджетов, повышается их скорость и качество. Однако для выполнения каждой новой задачи производители повышают количество транзисторов на микросхеме, не увеличивая ее и пытаясь «выжать» лучшие характеристики из чипов существующих размеров. Из-за высокой концентрации транзисторов микрочипы уже стали трехмерными. Это повышает производительность и расширяет возможности устройств, но провоцирует ряд неполадок в системе.
«Зачастую выявить эти ошибки при диагностике сложно, поскольку бывает, что давший сбой элемент нормально функционирует, но по его вине не работает соседний. Поэтому выявить и установить причины неполадок становится все сложнее», - рассказал он. Однако армянские ИТ-разработчики нашли решение. «Проводя тестирование систем, мы выявили закономерность в обнаруживаемых ошибках. Изучив закономерности, мы собрали их в таблицу, которую назвали «Периодической таблицей неисправностей», - заявил Шукурян. Механизм является альтернативным методом эффективного построения алгоритмов тестирования. Процесс анализа ускоряется, неисправности систематизируются, ни одна неполадка не остается вне поля зрения. По словам Шукуряна, количество строк и столбцов в таблице не ограничено, она может быть расширена для включения неисправностей будущих технологий. Основываясь на свойстве периодичности неполадок, предложенный механизм позволяет прогнозировать возможность возникновения новых неисправностей. Также «Периодическая таблица» позволяет построить единую встроенную тестовую систему, обеспечивая программируемость алгоритма тестирования. Использование метода резко повысило качество тестирования, а занимаемая тестовой системой площадь значительно сократились, проинформировал Шукурян.